Przełącznik ręczny do konwerterów elektrycznych obiektywów obrotowych	Ręczny kontroler	Przycisk ekspozycji

System zaprojektowany do analizy obrazu

Przywrócone ustawienia mikroskopu: sprzęt kodowany

BX3M wykorzystuje nową funkcję kodowania, która zintegruje ustawienia sprzętowe mikroskopu z oprogramowaniem do analizy obrazu Olympus Stream. Metody obserwacji, intensywność oświetlenia i pozycja obiektywu są zapisane w oprogramowaniu i/lub ręcznym sterowniku. Funkcja kodowania umożliwia automatyczne zapisywanie ustawień mikroskopu wraz z każdym obrazem, co ułatwia późniejsze ustawienia przywracania i udokumentowanie raportu. Zaoszczędza czas operatora i znacznie zmniejsza prawdopodobieństwo użycia nieprawidłowych ustawień. Aktualne ustawienia obserwacji są zawsze wyraźnie wyświetlane na ręcznym sterowniku i oprogramowaniu.

Kroki operacyjne	Operacja A Operacja B
Różni operatorzy używają różnych ustawień
Łatwe sprawdzenie prawidłowych ustawień
Synchronizacja ustawień obserwacji
Pomimo różnego operatora, ustawienia są takie same

Funkcje do różnych zadań kontrolnych i analitycznych

Obserwacja MIX: sprawia, że niewidzialne staje się widoczne

Technologia obserwacji MIX BX3M łączy metody oświetlenia pola jasnego i pola ciemnego. Źródło światła LED w suwniku oświetlenia MIX w celu ukierunkowania światła ciemnego pola na próbkę. Sposób ten jest podobny do tradycyjnego oświetlenia ciemnego pola, ale może zapewnić funkcję wyboru kwadrantu dla różnych kątów promieniowania LED. Połączenie tego kierowanego pola ciemnego z polem jasnym, fluorescencyjnym lub polaryzacyjnym, zwane oświetleniem MIX, pomaga podkreślić wady i odróżnić powierzchnie podniesione od wgłębionych.

Tradycyjne.

Pole jasne wprowadza światło bezpośrednio na próbkę, podczas gdy pole ciemne sprawia, że światło wprowadza światło na próbkę z boku wokół obiektu, podkreślając zarysowania i wady.

Zaawansowane

Obserwacja MIX jest połączeniem pola jasnego, fluorescencyjnego lub polaryzującego z kierunkowym ciemnym polem za pomocą pierściennego źródła światła LED. Można regulować źródło światła LED, aby wybrać, z którego kierunku oświetlenie. Metoda ta zapewnia wyjątkowy kontrast i podkreśla charakterystykę powierzchni na powierzchniach, których nie można zaobserwować tradycyjnymi metodami.

MIA natychmiastowy: łatwe przesuwanie stacji do fotografowania panoramicznego

MIA natychmiastowy: łatwe przesuwanie stacji do fotografowania panoramicznego

Teraz nie jest potrzeba elektrycznego nośnika, tylko przesunięcie przycisku XY na ręcznym nośniku umożliwia łatwe i szybkie połączenie obrazu. Oprogramowanie Olympus Stream wykorzystuje technologię rozpoznawania wzorów do generowania obrazów panoramicznych, zapewniając użytkownikom szerszy horizont widzenia niż pojedynczy ekran.

Natychmiastowy obraz MIA monety.

EFI: Tworzenie zdjęć o głębokiej głębokości

Funkcja rozszerzonego obrazowania głębokości pola (EFI) oprogramowania Olympus Stream pozwala uzyskać obraz próbki o wysokości większej niż głębokość ogniskowa obiektu i nakładać obraz z różnych powierzchni ogniskowych, tworząc obraz o głębokości nadgranicznej. EFI można wykonywać za pomocą ręcznego lub elektrycznego mechanizmu osi Z i można utworzyć wykres wysokości, aby łatwo rozpoznać strukturę próbki. Obrazy EFI można również tworzyć w trybie offline za pomocą wersji pulpitowej Stream.

HDR: uchwyca szczegóły zarówno w obszarach jasnych, jak i ciemnych

Wysoki zakres dynamiczny (HDR) wykorzystuje zaawansowaną technologię przetwarzania obrazu, która umożliwia regulację różnicy jasności w obrębie obrazu, co zmniejsza odblaski. HDR poprawia wizualność obrazów cyfrowych, zapewniając użytkownikom profesjonalne obrazy podczas tworzenia raportów.

Dzięki funkcji HDR wyraźnie wyświetla szczegóły obszarów jasnych i ciemnych
(Próbka: wtryskiwacz paliwa)

Poprawiony kontrast dzięki funkcji HDR
(Próbka: magnez)

Dostosowalne do preferencji obserwacji i analizy

Szeroki wybór metod obserwacji

Mikroskopy refleksyjne są stosowane w różnych branżach. Poniżej przedstawiono tylko kilka przykładów efektów uzyskanych za pomocą różnych metod obserwacyjnych, takich jak pole jasne (BF), pole ciemne (DF), różnica interferencji różnicowej (DIC), polaryzacja (PL), fluorescencja (FL), podczerwień (IR) i światło transmisyjne (TL).

DF (przykład: podłoża do montażu powierzchniowego)	DIC (przykład: badanie korozji z żelaza litowego)	PL (przykład: Małgorz)
FL (przykład: cząstki obce na płycie półprzewodnikowej)	IR (przykład: cięcie elektrody)	TL (przykład: filtr kolorowy LCD)

Funkcje pomiaru zwykłego lub podstawowego

Oprogramowanie Olympus Stream umożliwia szeroki zakres funkcji pomiarowych, dzięki czemu użytkownicy mogą łatwo uzyskać przydatne dane z obrazu. Pomiary obrazu są często wymagane podczas kontroli jakości i kontroli. Wszystkie poziomy licencjonowanego oprogramowania Olympus Stream zawierają interaktywne funkcje pomiaru, takie jak odległość, kąt, prostokąt, koło, eliptę i wielokąt. Wszystkie wyniki pomiarów są zapisywane wraz z plikiem obrazu w celu przyszłego wyszukiwania plików.

Liczenie i pomiary

Wykrywanie celów i pomiary rozkładu rozmiarów są ważnymi zastosowaniami w obrazach cyfrowych. Oprogramowanie Stream wykorzystuje metodę podziału progu do wykrywania celów, dzięki czemu można niezawodnie oddzielić cele (np. cząstki, zadrapania) od tła.

Rozwiązania materiałowe

Oprogramowanie Olympus Stream zapewnia intuicyjny interfejs oparty na przepływie pracy, który można wykorzystać do złożonej analizy obrazu. Kliknięciem przycisku można szybko i dokładnie wykonywać złożone zadania analizy obrazu i spełniać powszechnie stosowane standardy przemysłowe. Dzięki znaczącemu skróceniu czasu przetwarzania powtarzających się zadań materiałowie mogą skupić się na analizie i badaniach. Można również w każdej chwili łatwo dodać modułowe wtyczki do porównania pomieszczeń i standardowych wykresów oceny.

Duga historia technologii optycznej

Doskonałe właściwości optyczne: kontrola różnicy fal

Podczas badań lub integracji systemu przy użyciu mikroskopu należy znormalizować właściwości optyczne wszystkich obiektów. Obiektywy Olympus UIS2 zapewniają kontrolę różnicy fal, znacznie zmniejszając różnicę, która zmniejsza rozdzielczość, dzięki czemu uzyskuje wskaźniki wydajności numerycznej otworu (NA) i odległości roboczej (WD).

Stabilna temperatura koloru i wysoka intensywność białego oświetlenia LED

BX3M zapewnia wysoką intensywność białego źródła światła LED do oświetlenia odbijającego i przepuszczalnego. Niezależnie od intensywności diody LED utrzymują spójną temperaturę koloru. LED zapewnia doskonałe i długotrwałe oświetlenie i jest idealnym narzędziem do zastosowań badań materiałowych.

Wysoka i niska wytrzymałość światła dzięki lampie halogenowej	Wysoka i niska moc światła uzyskana przez LED

Wysoka jakość zapewniająca zaawansowaną wydajność

Pomoc pomiarowa: automatyczna kalibracja

Podobnie jak mikroskopy cyfrowe, automatyczna kalibracja jest możliwa przy użyciu oprogramowania Olympus Stream. Automatyczna kalibracja eliminuje czynniki ludzkie podczas procesu kalibracji i umożliwia uzyskanie bardziej niezawodnych wyników pomiarów. Algorytm automatycznej kalibracji automatycznie oblicza prawidłową ilość kalibracji przy użyciu średniej liczby punktów pomiaru. To znacznie zmniejsza różnice między różnymi operatorami, utrzymuje spójną dokładność i poprawia niezawodność regularnych weryfikacji.

Bezszwowe połączenie: korekcja cienia obrazu

Korygacja cienia można dokonać za pomocą oprogramowania Olympus Stream, aby kompensować cienie wokół narożników obrazu. Korygacja cienia zapewnia dokładniejszą analizę przy użyciu ustawień progowych intensywności światła. Ponadto podczas połączenia obrazu za pomocą MIA można uzyskać bardziej równomierny obraz panoramiczny.

Obraz 1 x 3 MIA (przykład: pozostałości na filtrze filmowym)

Obraz po lewej stronie: podczas połączenia obrazu, cienie znajduje się w miejscu połączenia oryginalnego obrazu
Zdjęcie po prawej stronie: po korekcie cienia całe pole widzenia jest równomiernie oświetlone

Diagram konfiguracji dla nauki o materiałach i zastosowań przemysłowych

Kombinacja światła odbijającego i odbijającego/transmitującego BBX53M

Seria BX3M oferuje dwa rodzaje uchwytów mikroskopowych, jeden przeznaczony wyłącznie do odbijania światła, a drugi do kombinacji światła odbijającego i światła przenoszącego. Oba uchwyty mogą być skonfigurowane z częściami ręcznymi, kodowanymi lub elektrycznymi. Wszystkie stojaki są wyposażone w funkcję antystatyczną ESD chroniącą próbki elektroniczne.

Diagram konfiguracji BX53MRF-S	Diagram konfiguracji BX53MTRF-S	Obserwacja BX53MIR

Obiektywy IR mogą być wykorzystywane do badań i pomiarów półprzewodników za pomocą materiału krzemowego. Wyposażony w obiektywy podczerwieniowe (IR) od 5 do 100 razy większe, zapewnia korekcję odchyleń od długości fali światła widzialnego do bliskiej podczerwieni. W przypadku obserwacji wysokiego powiększenia obrócenie pierścienia korektora serii LCPLN-IR może skorygować różnicę obrazu spowodowaną grubością próbki. Za pomocą jednego obiektywu można uzyskać wyraźny obraz.

Kombinacja polaryzacyjna BX53M

Mikroskop polaryzacyjny BX53M zapewnia obrazowanie polaryzacyjne o wysokim kontraście i jest idealnym wyborem dla geologów. Różne badania, takie jak identyfikacja minerałów, analiza właściwości optycznych kryształów i identyfikacja cienkich warstw skał, korzystają ze stabilnych układów mikroskopowych i optycznych.

BX53-P z konfiguracją lustra	BX53-P Konfiguracja stożkowej optoskopii

Oklary Brewsa do stożkowej i ortograficznej optoskopii

Zastosowanie akcesoriów do obserwacji stożkowej U-CPA ułatwia i szybko przełączanie pomiędzy optoskopią stożkową a optoskopią analogiczną. Można wyraźnie skupić interferencję na tylnej płaszczyźnie ostrości. Apensja pola widzenia oglądarki Brescia umożliwia zawsze uzyskanie ostrych i wyraźnych obrazów stożkowych.

Bogata gama komplementów i płyt długości fali

Dostępnych jest sześć różnych komplementów do pomiaru podwójnego złamania cienkich warstw skał i minerałów. Poziom różnicy pomiarowej jest w zakresie od 0 do 20 λ. W celu ułatwienia pomiaru i wysokiego kontrastu obrazu można użyć komplementów kolorowych Berek i Senarmont, które mogą zmieniać poziom różnicy pomiarowej w całym polu widzenia.

Zakres pomiaru komplementara koloru

R = poziom różnicy światła

Do większości precyzyjnych pomiarów zaleca się użycie komplementara koloru (z wyjątkiem U-CWE2) w połączeniu z filtrem interferencyjnym 45-IF546.

Elementy optyczne bez napięcia

Obiektywy beznapięciowe UPLFLN-P dzięki technologii projektowej i produkcyjnej firmy Olympus zmniejszają napięcia wewnętrzne do bardzo niskiego poziomu. Oznacza to wyższą wartość EF, dzięki czemu można uzyskać doskonały kontrast obrazu.

System BXFM

BXFM nadaje się do zastosowań specjalnych lub do integracji z innymi urządzeniami. Modułowa konstrukcja w połączeniu z różnymi specjalnymi małymi oświetleniami i urządzeniami mocującymi umożliwia ich bezpośrednie zastosowanie w wyjątkowych środowiskach i konfiguracjach.

Modułowe projektowanie, budowanie własnych systemów

Podstawa mikroskopowa

Dwa rodzaje uchwytów mikroskopowych mogą być używane do odbijania światła; Posiada również zdolność do obserwacji światła. Jest również wyposażony w adapter do podniesienia oświetlenia, aby dostosować się do wyższych próbek.

uchwyt

Jeśli próbka nie nadaje się do umieszczenia na nośniku podczas kontroli mikroskopowej, można zainstalować oświetlenie i elementy optyczne na większych stojanach lub innych urządzeniach.

lustro

W przypadku wykonywania obrazu mikroskopowego za pomocą okularów lub obserwacji za pomocą aparatu, wybierz lustro w zależności od typu obrazu podczas obserwacji i pozycji obserwacyjnej operatora.

Oświetlenie

Oświetlacz projektował światło na próbkę w zależności od wybranej metody obserwacji. Oprogramowanie współpracuje z oświetleniem kodowanym, aby odczytać lokalizację komponentów spektroskopu i automatycznie rozpoznawać metody obserwacji.

Światło

Źródło światła i zasilania do oświetlenia próbek należy wybrać odpowiednie źródło światła w zależności od metody obserwacji.

Konwerter obiektów

Akcesoria do obiektów i suwaków. Wybierz wymaganą liczbę i rodzaj obiektów; oraz czy posiadać akcesoria suwakowe.

Suwak

Wybierz suwak DIC, aby uzupełnić zwykłą obserwację otwartego pola. Po zastosowaniu suwaków DIC można wybrać typ o wysokim kontraście lub wysokiej rozdzielczości podczas pozyskiwania informacji stereoformalnych o próbce. Oświetlenie MIX jest bardzo elastyczne w użyciu, zapewniając podziałowe źródło światła LED w ciemnym polu światła.

Skrzynka sterująca z ręcznym sterownikiem

Skrzynka kontrolna jest używana w połączeniu sprzętu mikroskopowego z komputerem, a kontroler ręczny do wyświetlania i sterowania stanem sprzętu.

Stacja przewozowa

Stoły przenośne i płyty przenośne do umieszczania próbek. Wybierz w zależności od kształtu i rozmiaru próbki.

Adapter do aparatu

Adapter do obserwacji fotograficznej. Można wybrać z wymaganego pola widzenia i powiększenia. Rzeczywisty zakres obserwacji można obliczyć za pomocą następującej formuły:
Rzeczywiste pole widzenia (mm) = pole widzenia (liczba pól widzenia) ÷ powiększenie obiektywu.

Okulary

Okulary do bezpośredniego obserwowania mikroskopu. Wybierz w zależności od potrzebnego horyzontu widzenia.

Filtr kolorowy

Filtry optyczne mogą przekształcać światło wprowadzone na próbkę w różnych rodzajach. Wybierz odpowiedni filtr w zależności od potrzeb obserwacji.

lustro koncentracyjne

Fokus może zbierać i skupiać transmitowane światło. Używany do obserwacji światła transmisyjnego.

Komponenty spektroskopów

Komponent spektroskopu do BX3M-URAS-S. Wybierz na podstawie potrzebnych obserwacji.

Środkowe lustro

Różne rodzaje akcesoriów do różnych celów. Stosowanie pomiędzy lustrem a oświetleniem.

Więcej informacji

Obiektyw UIS2

Obiekt może powiększyć próbkę. Wybierz obiekt odpowiadający odległości roboczej, rozdzielczości i używanej metodzie obserwacji.

Standardowe parametry konfiguracji mikroskopu Olympus serii BX53M

Specyfikacja BX53 (do obserwacji polaryzacyjnej)

BX53M/BXFMESDUrządzenie

Olympus na miejscuMikroskop złotyZdjęcia z serii BX53M:

5x Ciemne pole Olympus	5X Stadium Olimpijskie
10x Ciemne pole Olympus	10x Stadium Olimpijskie
20x Ciemne pole Olimpijskie	20x Stadium Olimpijskie
50x Ciemne pole Olympus	50x Stadium Olimpijskie
100x Ciemne pole Olympus	100X Olimpijskie Stadium