1: Przecięcie papieru szlifowanego z SiC l 2: Przecięcie płyty farbowej l 3: włókna polimerowe koaksialne (rozpuszczalne w wodzie) przygotowane w temperaturze -120°C l 4: Obróbka wykazanych łupków olejowych (nanopory) za pomocą Leica EM TIC 3X (z nośnikiem obrotowym) o średnicy próbki całkowitej 25 mm

Wyniki do powielania

Trójjonowy promień Leica EM TIC 3X przygotowuje przekroje poprzeczne i powierzchnie polerowane do badań naukowych w zakresie mikroskopu elektronicznego skanowania (SEM), analizy mikrostrukturalnej (EDS, WDS, Auger, EBSD) i AFM.

Z urządzeniem Leica EM TIX 3X można uzyskać wysoką jakość obróbki powierzchniowej niemal każdego materiału w temperaturze pokojowej lub w warunkach zamrożenia, pokazując jak najwięcej wewnętrzną strukturę próbki w niemal naturalnym stanie.

Zapewnij bezprecedensową wygodę!

Efektywność

Dla efektywności szlifierki miotowej ważne jest zarówno doskonałe wyniki jakości, jak i wysoka wydajność. Nowa wersja nie tylko podwoi szybkość cięcia w porównaniu do poprzedniej generacji, ale także wyjątkowy system trójjonowych wiązek optymalizuje jakość przygotowania i skraca czas pracy. Można przetwarzać do trzech próbek naraz oraz cięć i polerować na tym samym nośniku.

Rozwiązania dotyczące przepływu pracy zapewniają bezpieczne i wydajne przesyłanie próbek do kolejnych przyrządów przygotowawczych lub systemów analitycznych.

Elastyczny system – spełniający Twoje potrzeby

Dzięki elastycznemu wyborowi nośników, Leica EM TIC 3X jest idealnym urządzeniem nie tylko do przetwarzania o wysokiej wydajności, ale także do laboratoriów, w których przeprowadzane są badania zlecone. W zależności od potrzeb można dostosować Leica EM TIC 3X do następujących wymiennych nośników:

• Standardowe nośniki
• Stacja do przewozu próbek
• Obrotowy nośnik
• stacja chłodząca lub
• Docking przenośny próżniowy

Do przygotowywania próbek standardowych, przetwarzania o wysokiej wydajności oraz przygotowywania próbek niezwykle wrażliwych na wysokie temperatury w niskich temperaturach, takich jak polimery, guma lub materiały biologiczne.

Rozwiązania dotyczące przepływu pracy z kontrolą środowiska

Dzięki interfejsowi stacjonarnemu VCT z Leica EM TIC 3X można zapewnić doskonały przepływ pracy w zakresie planowania próbek wrażliwych na wpływ środowiska i/lub próbek niskotemperaturowych, takich jak:

• materiały biologiczne,
• Materiały geologiczne
• lub materiałów przemysłowych.

Próbki te są następnie przesyłane do naszych systemów powlekania EM ACE600 lub EM ACE900 i/lub systemów SEM w warunkach bezczynności gazowej/próżniowej/mrożnej.

Standardowe rozwiązanie w zakresie przepływu pracy – synergia z Leica EM TXP

Przed użyciem Leica EM TIC 3X często wymagane są przygotowania mechaniczne, aby jak najbliżej obszaru zainteresowania. Leica EM TXP to wyjątkowy system polerowania powierzchni docelowej opracowany do cięcia i polerowania próbek, aby być w pełni przygotowany do dalszej obróbki technicznej instrumentów takich jak Leica EM TIC 3X

Leica EM TXP została profesjonalnie zaprojektowana do wstępnej produkcji próbek przy użyciu technologii cięcia, frezowania, szlifowania i polerowania. W przypadku trudnych próbek, które wymagają precyzyjnego zlokalizowania i trudnych do przygotowania, zapewnia doskonałe wyniki i ułatwia przetwarzanie.