TG-61321D niskotemperaturowe tester uderzeniaZastosowanie sprzętu:

Wysokotemperaturowe komory do badań uderzeń służą do testowania konstrukcji materiału lub materiału kompozytowego, w jakim stopniu może być tolerowany w ciągłym środowisku w bardzo wysokich i bardzo niskich temperaturach w jednym momencie, aby przetestować zmiany chemiczne lub uszkodzenia fizyczne spowodowane zmniejszeniem temperatury cieplnej w jak najkrótszym czasie. Dotyczy to elektroniki samochodowejMateriały takie jak komponenty, oświetlenie wyświetlacza LED/LCD/PDP, elektryk elektroniczny, instrumentacja, nowa energia/komponenty elektroniczne/urządzenia elektryczne, tworzywa sztuczne/guma/folia, badania naukowe/kontrola jakości/szkoły/urządzenia medyczne, PCB/FPC/HDI/MPCB/IC mogą służyć jako podstawa i odniesienie do weryfikacji jakości lub ulepszenia ich produktów.

TG-61321D niskotemperaturowe tester uderzeniaPrzegląd konstrukcji:

Wysokotemperaturowe testery uderzeniowe/ Zimno-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło-ciepło Główna struktura składa się z trzech zbiorników (zbiornik wysokiej temperatury, zbiornik niskiej temperatury, zbiornik produktu), zbiornik wysokiej temperatury to produkcja i przechowywanie wysokiej temperatury, zbiornik niskiej temperatury to produkcja i przechowywanie niskiej temperatury, zbiornik produktu to objętość przestrzeni dla klienta. Zasada uderzenia polega na wykończeniu testów przy użyciu zimnej i ciepłej temperatury wyrobów o wysokiej i niskiej temperaturze do przestrzeni, w której wyroby są umieszczone.

TG-61321D niskotemperaturowe tester uderzeniaStosuje się do standardów:

1：GB / T 10592-2008 Warunki techniczne dla układu testowego wysokiej i niskiej temperatury;

2：GB/T 2423.1-2008 Badania środowiskowe produktów elektrycznych i elektronicznych Część 2: Metody badań Badanie A: niska temperatura (IEC 60068-2-1:2007, IDT);

3：GB/T 2423.2-2008 Badania środowiskowe elektryczne i elektroniczne Część 2: Metody badań Badanie B: Wysoka temperatura (IEC 60068-2-2:2007, IDT);

4：GB/T 2423.22-2012 Badania środowiskowe Część 2: Metody badań Badanie N: Zmiany temperatury (IEC 60068-2-14:2009, IDT);:

5：GJB 150.3-86 Metody badań środowiskowych sprzętu wojskowego Część 3 Badania w wysokich temperaturach;

6：GJB/T 150,4-2009Metody badań środowiskowych sprzętu wojskowego 第4 część badań niskotemperaturowych;:

7：GJB/T 150.5-86 Metody badań środowiskowych sprzętu wojskowego Część 5 Badania uderzeń temperaturowych.

8: GJB150.5-86 Test uderzenia temperatury;

9: GJB360.7-87 Test uderzenia temperatury;

10: GJB367.2-87 405 Test uderzenia temperatury;

11: GB11158-2008 Warunki techniczne wysokotemperaturowej skrzyni testowej

12: GB10589-2008 Warunki techniczne niskotemperaturowej skrzyni testowej

TG-61321CWysokotemperaturowe testery uderzenioweCechy produktu：

1： Nowa generacja układu do badań uderzeń w wysokich i niskich temperaturach (3 pudełka), struktura pudełka, system chłodzenia, technologia sterowania mają duże reformy techniczne, bardziej niezawodne działanie i łatwiejszą konserwację.

2：Chłodniczki知名OryginalnyImport"Tykon"lub„Bizer”.

3：KontrolaZastosowanie systemuKolorowy ekran dotykowy w języku angielskimPrzyciskOperacja，Wygląd jest prostszy,Prosta konfiguracja operacyjna.

4: W zależności od specyfiki próbki do przetestowania, pudełko do badań uderzeń wysokich i niskich temperatur jest podzielone na dwa pudełka do uderzeń małych i trzy pudełka do uderzeń statycznych. Ten produkt może być stosowany zarówno w eksperymentach z uderzeniami cieplnymi i zimnymi, jak i w oddzielnych zastosowaniach w wysokich lub niskich temperaturach.

5：Próbka testowa jest zawsze w stanie spokojnym, zmniejszając uderzenie mechaniczne w próbkę, a jej konwersja temperatury jest osiągana przez układ pneumatyczny, który otwiera (zamyka) różne drzwi powietrzne, z otworami testowymi, które mogą być naładowane, sygnalizowane i testowane ze źródłem gazu. Można zrealizować5 ℃ / min-30 ℃ / min regulowalny.

6: Wyposażenie układu do badań uderzeń w wysokiej i niskiej temperaturze: Przechowywanie karty SD, wyjście USB, podłączenie komputera do druku, kabina ma zapis papierowy i inne opcje.

7: Obróbka pudełkaWykorzystując obróbkę CNC, kształt jest piękny i szczodry, a uchwyt bez reakcji jest łatwy w obsłudze.ObudowaPrzyjęcieWysokiej jakości blachy ze stali węglowejObróbka fosforyzacji elektrostatycznejalbo (opcjonalnie)SUS304 Stal nierdzewna mgła linia obróbka włosów，Materiały wewnętrzneZaawansowany materiał ze stali nierdzewnej SU304.

8: Wyposażenie układu testowego o wysokiej i niskiej temperaturzeDuże okno obserwacyjneMarki międzynarodoweŚwiatła oświetleniowe utrzymują jasność wewnątrz pudełka i używają wbudowanego szkła hartowanego w korpusie grzewczym, aby w każdym momencie jasno obserwować stan wewnątrz pudełka.

TG-61321DWysokotemperaturowe testery uderzenioweParametry techniczne: