Zastosowanie sprzętu:
Ta seria produktów testowych wysokiej i niskiej temperatury jest szeroko stosowana w lotnictwie, kosmosie, elektroniki i elektryczności, przyrządach, materiałach, częściach, urządzeniach itp. do rutynowych testów wysokiej i niskiej temperatury, testów odporności na zimno i przechowywania w niskiej temperaturze w celu analizy i oceny wydajności i zachowania w warunkach środowiskowych opracowanych podczas testów.

Charakterystyka struktury komory testowej wysokiej i niskiej temperatury:
Skrzynka wykorzystuje cyfrowe formowanie maszyny macierzystej CNC, kształt łuku jest piękny i szczodry, a płaski uchwyt bez reakcji jest łatwy w obsłudze.
Wnętrzna część skrzynki jest wykonana ze stali nierdzewnej SUS # 304, zewnętrzna część jest wykonana ze stali SECC i malowana, aby zwiększyć wygląd i czystość.
Duże okna obserwacyjne z oświetleniem utrzymują jasność wewnątrz pudełka i wykorzystują wbudowane szkło do ogrzewania, aby utrzymać jasną sytuację wewnątrz pudełka.
Warstwa izolacyjna pudełka jest wykonana z pianki PU o wysokiej wytrzymałości i bawełny z włókna szklanego o grubości 10 cm, aby uniknąć niepotrzebnych strat energii.
Po lewej i górnej stronie skrzynki są wyposażone w dwa otwory testowe o średnicy 50 mm, które mogą być używane do zewnętrznego kabla zasilania lub kabla sygnału testowego.
Programowalny kontroler:
Kontroler wykorzystuje importowany dotykowy kontroler mikrokomputerowy LCD, piękny i piękny.
Produkt wykorzystuje opór wysokiej precyzji ekranu dotykowego, można bezpośrednio użyć myszy USB lub długopisa dotykowego do kliknięcia ekranu do wyboru funkcji lub ustawienia parametrów.

Wysokotemperaturowe testery spełniają następujące standardy:
GB / T2423.1-2008metody badań niskotemperaturowych;
GB/T2423.2-2008 Metody badań w wysokiej temperaturze;
GB/T2423.22-2002 Metody badań zmian temperatury;
IEC60068-2-1.1990 Metody badań w niskich temperaturach;
IEC60068-2-2.1974 Metody badań w wysokich temperaturach;
GJB150.3 badania w wysokich temperaturach; GJB150.4 Test niskotemperaturowy.

Szczegółowe parametry:

Główne wskaźniki techniczne układu testowego o wysokiej i niskiej temperaturze; Może być również produkowany według rozmiarów wymaganych przez klienta, aby spełnić wymagania klienta.
PProgramowalny, S ekonomiczny
W A， B, C, D, E oznaczają zakres temperatury (A: 0 ° C); B: -20℃; C: -40℃; D: -60℃; E: -70℃)

Krajowy jednolity klient: